XR-100CR Si-PIN 应用谱图
XR-100CR 最常见的应用领域是 X 射线荧光或 XRF。这是一种分析技术，可确定样品中存在的元素，并且不会造成破坏性，而且非常快速。
RoHS/WEEE 应用
合金分析：SS316 的 XRF，Ag/Cu 的 XRF
铅（Pb）的 XRF
金属电镀
工艺控制
圣高登斯 $20 美元金币的 XRF
各种珠宝的 XRF
玻璃分析
纸张分析
Mössbauer 光谱测量
多元素荧光样品
低 Z 元素荧光
241Am 频谱
RoHS/WEEE 应用
RoHS/WEEE [电气电子设备有害物质/废物限制] 指令要求电子行业在 2006 年 7 月之前证明产品符合特定元素和化合物（Cr VI、Pb、Cd、Hg、Br PBB/PBDE）的最大浓度要求。下图显示了铬（Cr）、铅（Pb）和镉（Cd）组合发出的 X 射线光谱。作为质量保证计划的一部分，XR-100CR 可通过 XRF 验证是否符合 RoHS/WEEE 要求。它使用户能够快速、准确、无损地测量指定元素的浓度。公司可以验证供应商的合规性并证明自己的合规性。
图 8.铬（Cr）、铅（Pb）和镉（Cd）XRF。RoHS/WEEE 指令要求电子行业在 2006 年 7 月之前认证产品符合特定元素和化合物（Cr VI、Pb、Cd、Hg、Br PBB/PBDE）的最大浓度要求。
SS316 的 XRF
XRF 可用于准确测定特定金属制品的合金成份。每种合金都具有独特的元素比，使用 XRF，可以通过峰的强度比无损地确定元素比。下面谱图显示了一块不锈钢 316 在 109Cd 的激发下发出的 X 射线谱图。高强度 Fe 线表明，这块不锈钢以铁为主，而 Cr、Mn、Ni 和 Mo 峰则表明，它是合金。这在许多应用中都非常重要，例如质量保证（验证供应商是否使用了正确的合金）、工艺控制、金属回收等
图 9.109Cd 下 SS316 的 X 射线荧光（XRF）。
银（Ag）和铜（Cu）合金的 XRF
图 10.银（Ag）和铜（Cu）合金的 XRF。
铅（Pb）的 XRF
金属分析领域中的一种特殊情况是铅（Pb）。铅多年来被广泛用于各种产品，从油漆到管道焊锡再到电子组件等。XRF 提供了一种非破坏性方法来评估物品中是否存在铅，而不会损坏物品。下面的频谱显示了一块纯铅在 109Cd 激发源下发出的特征 L X 射线。
图 11.109Cd 下铅（Pb）的 X 射线荧光（XRF）。
图 12.铅（Pb）荧光显示了 K 和 L 线。
钢连接器上的镀层
下面的频谱显示了电子连接器上的镀层。由于某些连接器应用特别规定不能使用 Cd，因此验证其是否存在非常重要。此频谱清楚地表明，Cd 和 Cr 都存在于钢连接器上的镀层中。
图 13.镀镉和镀铬钢
镍（Ni）上镀金（Au）
图 14.镍上镀金
镀锌钢的 XRF
图 15.镀锌钢：铁（Fe）上镀锌（Zn）。
工艺控制：钢铁厂烟囱的 XRF
图 16.
圣高登斯 $20 美元金币的 XRF
图 17.含 90% 金（Au）和 10% 铜（Cu）的圣高登斯 $20 美元金币的 XRF 分析。
铂金（Pt）戒指的 XRF
图 18.含铜（Cu）、痕量镍（Ni）和钯（Pd）的铂金（Pt）戒指的分析。
14k 金/白金（Au）链的 XRF
图 19.含铜（Cu）和镍（Ni）的 14k 金/白金（Au）链的分析。
玻璃的 XRF
图 21.
纸张的 XRF
图 22.
Mössbauer 光谱测量
XR-100CR 7 mm2/300 µm 探测器是一款出色的 Mössbauer 光谱测量探测器。由于探测器的厚度只有 300 µm，因此它在 14.4 keV 时效率很高，而在 122 keV 时效率很低。此处显示的 57Co 频谱显示了 14.4 keV 和 122 keV 的探测效率之比约为 1700/1。通过在探测器和激发源之间使用一种薄铝吸收体，还可以消除 6.4 keV 和 7.1 keV 峰，从而使 14.4 keV 成为唯一可检测的能量峰。
图 24.
多元素荧光样品
图 25.109Cd 下多元素样品的 X 射线荧光（XRF）。
低 Z 元素荧光
图 26.6 mm2/500 µm 探测器的低（Z）元素 X 射线荧光（XRF）。
241Am 频谱
图 27.241Am 频谱。