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分析软件

  • XRS-FP2 定量 XRF 分析软件

    该软件的所有版本都可使用 XRF 的 FP 方法或电子束生成光谱的 ZAF 方法处理 Amptek 探测器和信号处理器的原始 X 射线光谱,以获得 (1) 元素峰强度(即每个元素对应的峰面积除以活时时间)以及 (2) 元素浓度和/或膜厚度。

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  • 电子探针 X 射线分析仪(EPXA)定量分析软件

    XRS-FP2 现在有集成分析模式。根据购买的软件选项,XRS-FP2 可以在 XRF (块状或多层)模式或 EPXA 模式下运行。在 EPXA 模式下运行时,软件用于分析在配有 EDS 探测器的 SEM 上采集的频谱。该软件可在标准 PC 和 Windows XP 及更高版本的操作系统上运行。使用吸收系数、荧光产额、跃迁概率等基本参数(FP)的内部数据库时,无论是否有标样,都可以进行完整的 ZAF 分析。此外,它还有集成的频谱显示。

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  • SODIGAM 伽马射线分析软件

    SODIGAM 是唯一一款用于闪烁光谱仪的高精度分析软件,可在伽马射线分析中准确描述背景、基线和峰形。 它包含许多高精度 HPGe 光谱分析程序中的常用功能,允许用户从 DPPMCA 软件运行样品。

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  • 用于 HPGe 探测器的 GAMMA-W 伽马射线分析软件

    Gamma-W 软件可对 HPGe 探测器的伽马射线光谱进行高精度分析,非常适合 PX5-HPGe 和高纯度锗探测器。 它因即使在高背景下也能对小峰进行精确和可重复的分析而著称。 Gamma-W 包含许多司法管辖区为定量分析 HPGe 伽马射线光谱而规定的所有选项和算法,包括检测限、放射性衰变控制、不确定性、文档等,并允许用户从 DPPMCA 软件运行样品。

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