该软件的所有版本都可使用 XRF 的 FP 方法或电子束生成光谱的 ZAF 方法处理 Amptek 探测器和信号处理器的原始 X 射线光谱，以获得 (1) 元素峰强度（即每个元素对应的峰面积除以活时时间）以及 (2) 元素浓度和/或膜厚度。
XRS-FP2 现在有集成分析模式。根据购买的软件选项，XRS-FP2 可以在 XRF （块状或多层）模式或 EPXA 模式下运行。在 EPXA 模式下运行时，软件用于分析在配有 EDS 探测器的 SEM 上采集的频谱。
SODIGAM 是唯一一款用于闪烁光谱仪的高精度分析软件，可在伽马射线分析中准确描述背景、基线和峰形。 它包含许多高精度 HPGe 光谱分析程序中的常用功能，允许用户从 DPPMCA 软件运行样品。
Gamma-W 软件可对 HPGe 探测器的伽马射线光谱进行高精度分析，非常适合 PX5-HPGe 和高纯度锗探测器。 它因即使在高背景下也能对小峰进行精确和可重复的分析而著称。 Gamma-W 包含许多司法管辖区为定量分析 HPGe 伽马射线光谱而规定的所有选项和算法，包括检测限、放射性衰变控制、不确定性、文档等，并允许用户从 DPPMCA 软件运行样品。