Ametek 最近收购了超薄辐射窗（Si3N4）、硅漂移和 Si-PIN 探测器以及 X 射线滤光片等辐射探测器组件供应商 HS Foils。HS Foils 现在是 Amptek Inc. 的一部分。Amptek 自 2010 年以来一直使用 HS Foils 的氮化硅窗口，最近开始使用他们的技术为 EDS 市场制造探测器。
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该集团开发了氮化硅窗口专利技术，这大大扩展了 X 射线窗口性能及其应用领域的范围。 HS Foils 在 Si-PIN 和硅漂移探测器（SDD）的制造方面拥有广泛的专业知识，生产出的探测器具有极低泄漏电流、耐辐射性和卓越前触点，可提供出色的低能量分辨率和均匀的峰形。
该集团的设计和生产工厂位于芬兰埃斯波的 Micronova，这是斯堪的纳维亚半岛最大的微纳米技术研究中心。
对于 Amptek 而言，这是一项极具战略意义的举措，因为这将探测器和窗口设计引入了公司内部。Amptek 现在发布了 70 mm2 SDD，有实力为最严苛的应用提供最高质量的探测器。Amptek 将在不久的将来推出其他各种形状和尺寸的不同类型的探测器。
窗口技术
该集团已开发出一种制造超薄 X 射线窗口的新专利技术。这项技术的主要优势是其无与伦比的低能量 X 射线透射特性。与传统的基于聚合物的 X 射线窗口相比，该技术具有明显的优势。该集团还开发了在 X 射线窗口中使用半导体行业的传统陶瓷和晶体材料的新方法。通过将这些高质量的超纯材料与创新的 X 射线窗口结构设计以及先进的制造方法相结合，制造出的超薄 X 射线窗口具有卓越的性能。
Amptek 在其氮化硅 C 系列窗口中使用了这项技术。
为什么这项技术更好：
- 材料完全无毒
- 最佳低能量 X 射线透射率
- X 射线的接收角大。
- 进一步加工中的温度范围最宽
- 真空密闭
- 耐压
- 高强度
有关窗口技术的论文：
软 X 射线光谱技术的发展（2016）
超薄氮化硅 X 射线窗口的性能和特性（2014）
超薄氮化硅 X 射线窗口（2013）
探测器技术
该集团开发了一系列高质量、高性能和一致的辐射探测器。Amptek 在所有产品系列中都使用了这些探测器。
Si-PIN 和 SDD 探测器具有
- 超低泄漏电流
- 超低噪声
- 卓越的电荷收集
- 耐辐射性
- 始终如一的质量