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用于 Amptek SDD 和 Fast SDD® 探测器的外部准直器
Amptek 的 eMLC-1 外部准直器是一个附件,可用于减少 X 射线从广角进入 Amptek SDD 和 Fast SDD® 探测器的通量,从而改善背景并减少光谱干扰。 外部准直器的效果在很大程度上取决于仪器的几何形状;许多客户都会为他们的应用设计自己的准直器。 这是一个通用工具,可在许多应用中使用,也是定制设计的基础。
Amptek 的 SDD 和 Fast SDD® 探测器包括一个内置多层准直器(MLC),它可以防止 X 射线到达电荷收集不理想的探测器有效体积的边缘。 eMLC-1 使用相同的多层准直器,它采用黄铜外壳,并安装在外部。 多层准直器可以高效地阻止 X 射线,它以钨为芯材料,然后是 Z 逐渐降低的材料层,用以阻止其特征 X 射线;外层是铝。
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规格参数
多层准直器(MLC): 基底金属为 100 µm 的钨(W),第一层为 35 µm 的铬(Cr),第二层为 15 µm 的钛(Ti),最后一层为 75 µm 的铝(Al)。
准直器外壳: 基底金属为 0.020 英寸黄铜,表面镀镍。 请注意,这位于探测器 0.010 英寸镍盖的顶部。
开口面积: 17 mm²
几何参数
下图显示了机械设计。 请注意,外壳通过外缘的梯级与铍窗口保持在 0.020 英寸的距离。
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应用
下面的频谱显示了外部准直器的应用。 这些频谱是使用 Amptek 实验人员套件和配备 W 和 Al 管滤光片的 Ag 阳极 X 射线管从高密度聚乙烯样品测得,该样品应不含金属。 黑色迹线是在探测器上没有外部准直器的情况下采集所得。 可见的峰包括 Fe、Ni 和 Cu(这里的 Ni 来自于探测器盖的边缘,其他材料来自夹具)。 橙色迹线是在使用 eMLC-1 的情况下采集所得。 镍强度降低了 7 倍,而其他线则完全消失。 总计数率由于立体角减小而降低了 20%。
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