FAST SDD® 是 Amptek 最高性能的硅漂移探测器（SDD），能够在保持出色分辨率的同时，提供超过 1,000,000 CPS（每秒计数）的计数率。FAST SDD® 还可配备我们的专利 C 系列 (Si3N4) 低能量窗口，用于软 X 射线分析。
Amptek 专利“C 系列”X 射线窗口通过采用氮化硅（Si3N4）和铝涂层，将硅漂移探测器（SDD）的低能量响应扩展到了硼（B）；它们只被用在我们的 FastSDD® 上。
Amptek 很自豪地为扫描电子显微镜（SEMs）中的能量色散谱（EDS）推出了一款改进的硅漂移探测器（SDD）。使用我们专有的专利“C 系列”氮化硅（Si3N4）X 射线窗口，我们 FAST SDD® 的低能量响应可扩展到铍（Be）。