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用于 XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器

  • FAST SDD® 超高性能硅漂移探测器

    FAST SDD® 是 Amptek 最高性能的硅漂移探测器(SDD),能够在保持出色分辨率的同时,提供超过 1,000,000 CPS(每秒计数)的计数率。FAST SDD® 还可配备我们的专利 C 系列 (Si3N4) 低能量窗口,用于软 X 射线分析。

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  • 专利 C 系列低能量 X 射线窗口

    Amptek 专利“C 系列”X 射线窗口通过采用氮化硅(Si3N4)和铝涂层,将硅漂移探测器(SDD)的低能量响应扩展到了硼(B);它们只被用在我们的 FastSDD® 上。

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  • FAST SDD® 和 C2 窗口的 EDS(SEM)应用

    Amptek 很自豪地为扫描电子显微镜(SEMs)中的能量色散谱(EDS)推出了一款改进的硅漂移探测器(SDD)。使用我们专有的专利“C 系列”氮化硅(Si3N4)X 射线窗口,我们 FAST SDD® 的低能量响应可扩展到铍(Be)。

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