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FAST SDD® 和 C2 窗口的 EDS(SEM)应用

Amptek 很自豪地为扫描电子显微镜(SEMs)中的能量色散谱(EDS)推出了一款改进的硅漂移探测器(SDD)。使用我们专有的专利“C 系列”氮化硅(Si3N4)X 射线窗口,我们 FAST SDD® 的低能量响应可扩展到铍(Be)。具有高固有效率的 FAST SDD® 是 EDS 的理想选择,EDS 也被称为能量色散 X 射线光谱测量(EDX 或 XEDS)和能量色散 X 射线分析(EDXA)或能量色散 X 射线显微分析(EDXMA)。

系统包括:

  • FAST SDD® – 225 mm 或 270 mm
  • 带数字脉冲处理器和所有电源的 X-123 封装
  • 真空延长管 – 5 或 9 英寸
  • 真空法兰


图 1.带 C2 窗口、真空延长管和馈通接头的 X-123 FAST SDD® 光谱仪。


图 3.配备 C2 窗口的新型 Fast SDD® 探测器的铍(Be)和碳(C)谱图。

C2 窗口透射效率

元素 C2 窗口
透射
Li 29%
Be 13%
B 19.7%
C 43.9%
N 59.2%
O 62%
F 69%
Ne 72.9%
Na 75.1%
Mg 77.3%
Al 80.3%
Si 81.8%


图 5.C2 窗口与聚合物窗口。

图 6.FAST SDD® 55Fe 谱图。

  • 了解有关 FAST SDD® 的更多信息
  • 了解有关我们专利 C 系列低能量窗口的更多信息
  • FAST SDD®2适用于 70 mm
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本页上的所有结果都是完全冷却时的典型性能值;请联系我们以讨论在不同工作条件下的保证性能。  参数如有变更,恕不另行通知。C2 窗口对 He 不气密。切勿将其放到 He 吹扫气体中。这将破坏真空并使保修失效。