Amptek 很自豪地为扫描电子显微镜（SEMs）中的能量色散谱（EDS）推出了一款改进的硅漂移探测器（SDD）。使用我们专有的专利“C 系列”氮化硅（Si3N4）X 射线窗口，我们 FAST SDD® 的低能量响应可扩展到铍（Be）。具有高固有效率的 FAST SDD® 是 EDS 的理想选择，EDS 也被称为能量色散 X 射线光谱测量（EDX 或 XEDS）和能量色散 X 射线分析（EDXA）或能量色散 X 射线显微分析（EDXMA）。
系统包括：
- FAST SDD® – 225 mm 或 270 mm
- 带数字脉冲处理器和所有电源的 X-123 封装
- 真空延长管 – 5 或 9 英寸
- 真空法兰
图 1.带 C2 窗口、真空延长管和馈通接头的 X-123 FAST SDD® 光谱仪。
图 3.配备 C2 窗口的新型 Fast SDD® 探测器的铍（Be）和碳（C）谱图。
C2 窗口透射效率
| 元素 | C2 窗口
透射 |
| Li | 29% |
| Be | 13% |
| B | 19.7% |
| C | 43.9% |
| N | 59.2% |
| O | 62% |
| F | 69% |
| Ne | 72.9% |
| Na | 75.1% |
| Mg | 77.3% |
| Al | 80.3% |
| Si | 81.8% |
图 5.C2 窗口与聚合物窗口。
图 6.FAST SDD® 55Fe 谱图。
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- FAST SDD®2适用于 70 mm
立即联系我们了解更多信息！ 本页上的所有结果都是完全冷却时的典型性能值；请联系我们以讨论在不同工作条件下的保证性能。 参数如有变更，恕不另行通知。C2 窗口对 He 不气密。切勿将其放到 He 吹扫气体中。这将破坏真空并使保修失效。