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混合资源指南

使用 Amptek 电荷灵敏前置放大器来增强固态探测器、比例计数器、光电二极管、PM 管、CEM 或 MCP 的性能

特点

  • 低噪声
  • 小功率
  • 小尺寸
  • 高可靠性

应用

  • 航空
  • 便携式仪器
  • 核电厂监测
  • 成像
  • 石油测井
  • 研究实验
  • 医疗和核电子
  • 电光学

Amptek 混合电子器件

  • 选择指南 +


    混合选择表（规格如有更改，恕不另行通知）

    型号 描述 特点 应用
    A101 电荷灵敏前置放大器和鉴别器 灵敏度：1×106 个电子；可变阈值；TTL 和集电极开路输出；周期性 4MHz；外部可调的鉴别水平和脉冲宽度 脉冲计数模式，搭配：光电倍增管（PMT）、通道电子倍增器（CEM）
    A111 A111F 电荷灵敏前置放大器和鉴别器 灵敏度：5×104 个电子；可变阈值；TTL 输出；周期性 2.5MHz；模拟监控输出；外部可调的鉴别水平 脉冲计数模式，搭配：低增益光电倍增管、比例计数器和微通道板（MCP）
    A121 12MHz 前置放大器鉴别器 灵敏度：5×104 个电子；电压控制阈值；周期性 12MHz；模拟监控输出；可调脉冲宽度 快速脉冲计数模式，搭配：微通道板、通道电子倍增器、低增益 PMT、比例计数器和固态探测器
    A203 电荷灵敏前置放大器和整形器 前置放大器：噪声 900 个电子有效值；上升时间 50ns 整形器：300ns 峰值时间；灵敏度 5V/皮库仑；有单极和双极性输出 模拟模式，搭配：固态探测器、比例计数器、光电倍增管和通道电子倍增器
    A206 脉冲放大器和鉴别器 放大器：10x 增益鉴别器：灵敏度 50mV；周期性 200kHz；外部可调的低电平鉴别水平和脉冲宽度 接在脉冲整形器（A203、A225）之后，以实现 10 倍增益并提供低电平鉴别
    A225 A225F 电荷灵敏前置放大器和整形器 前置放大器：噪声 <280 个电子有效值；上升时间 20ns 整形器：2.5 µs 峰值时间；灵敏度 5V/皮库仑 模拟模式，搭配：固态探测器和比例计数器，可接受高电容探测器
    A250 A250F  A250F/NF “尖端”电荷灵敏前置放大器 外部 FET 可匹配探测器特性，允许对输入 FET 进行冷却；上升时间 <2.5ns；噪声在 +20 °C 时 <100 个电子有效值，在冷却 FET 时 <20 个电子有效值 所有可能的探测器都可以连接到 A250，因为输入 FET 在外部，并且灵敏度可变。A250 号称是“世界上最好的前置放大器”，因为用户可以对其进行调整，使其与探测器特性完美匹配，降低噪声，并在每个应用中实现最佳性能。
    A275 A275FC  A275FN 脉冲放大器 低噪声（4nV/√Hz）；超低功耗（15mW），高转换速率（100V/µs），宽带（ft=200MHz）；差分输入，可配置为具有可调节增益和时间常数的整形放大器 用于 A250 或其他电荷前置放大器的增益和整形
    A150 脉冲振幅鉴别器 隧道二极管快动作鉴别器；互补 CMOS 输出；周期性 5MHz；外部可调的鉴别水平和脉冲宽度 接在脉冲整形器（A203、A225、A275）之后，以实现准确的电平鉴别
    BLR1 基线恢复器 恢复高计数率应用中的基线 与 A275、A203、A225 一起使用
    PH300 峰值保持探测器 用于保持模拟脉冲的峰值并与模数转换器连接。可以连接 Wilkinson 型和逐次逼近型 ADC；低功耗（<30mW）；低下降率（<1µV/µs）；快速模拟上升时间（200ns） 与 A275、A225、A203 或任何其他脉冲放大器一起使用
    HV801 高压光电耦合器 可提供高达 8 kV 的线性电压控制 高压电源应用

    * 我们为大多数混合器件提供了测试板，以简化测试和原型设计工作。它们提供了接地层配置和用于快速评估和测试产品的所有必要组件。强烈建议初次使用者使用测试板。

  • 快速入门 +


    快速入门

    型号 前置放大器 脉冲放大器 鉴别器 封装 测试板
    A101 是（无输出） 是（无输出） 是（主输出） TO-8（.600）– 12 引脚 PC-11
    A111 是（无输出） 是（模拟监控） 是（主输出） TO-8（.600）– 12 引脚 PC-21
    A111F 是（无输出） 是（模拟监控） 是（主输出） SIP – 6 引脚 PC-21
    A121 是（无输出） 是（模拟监控） 是（电压控制） SIP – 9 引脚 PC-121
    A203 是（单独输入、输出） 是（单独输入、输出） 否 DIP（.300）– 16 引脚 PC-236
    A206 否 是（单独输入、输出） 是（单独输入、输出） DIP（.300）– 16 引脚 PC-236 或 PC-25
    A225 是（定时脉冲输出） 是（主输出） 否 DIP（.300）– 14 引脚 PC-25
    A225F 是（定时脉冲输出） 是（主输出） 否 SIP – 6 引脚 无
    A250 是（外部 FET，可变增益） 否 否 DIP（.300）– 14 引脚 PC-250
    A250F 是（内部 FET，可变增益） 否 否 SIP – 6 引脚 PC-250F/NF
    A250F/NF 是（外部 FET，可变增益） 否 否 SIP – 6 引脚 PC-250F/NF
    A275 否 是（外部可调的增益和整形时间） 否 DIP（.300）– 14 引脚 PC-275
    A275FC 否 是（外部可调的增益和整形时间） 否 SIP – 6 引脚 无
    A275FN 否 是（外部可调的增益和整形时间） 否 SIP – 6 引脚 无
    A150 否 否 是（电压控制） DIP（.300）– 14 引脚 无
    BLR1 否 否 否 TO-8（.500）– 12 引脚 PC-275

    * 我们为大多数混合器件提供了测试板，以简化测试和原型设计工作。它们提供了接地层配置和用于快速评估和测试产品的所有必要组件。强烈建议初次使用者使用测试板。

  • 筛选选项 +


    混合器件筛选选项

    标准：“Amptek 高可靠性筛选”

    • 破坏性键合拉力测试（100%），MIL-STD-883，方法 2023
    • 密封前肉眼检查：MIL-STD-883，方法 2017，条件 H，低放大倍率，高放大倍率
    • 电气测试：根据规格
    • 密封：焊接密封
    • 标记：日期代码和序列号
    • 稳定烘烤：MIL-STD-883，方法 1008，条件 C。+150 °C，至少 24 小时
    • 温度循环：MIL-STD-883，方法 1010，条件 C。T = -65 °C 至 +150 °C，每个极端 10 分钟，最长传递时间 5 分钟，10 个循环
    • 离心机：MIL-STD-883，方法 2001，条件 A。YI 轴；5,000 G
    • 老化测试：MIL-STD-883，方法 1015，在 +125 °C 下 160 个小时
    • 精细泄漏测试：MIL-STD-883，方法 1014，条件 A。如果泄漏率超过 5×10-7 cc/ 秒，则丢弃
    • 粗略泄漏测试：MIL-STD-883，方法 1014，条件 C。全氟化碳
    • 电气测试：根据规格
    • 外观检验：MIL-STD-883，方法 2009
    选项 1：包括标准筛选和以下内容：

    • 粒子碰撞噪声检测（PIND），MIL-STD-883，方法 2020
    • 射线照相，MIL-STD-883，方法 2012
    • +70 °C 和 -25 °C 下的最终电气测试
    选项 1 + 筛选：包括标准筛选和选项 1 以及以下内容：

    • 所有有源元件的 SEM，MIL-STD-883，方法 2018
    • 封装评估，MIL-STD-883，第 1-4 和 6 组
    • 基板评估，MIL-PRF-38534（附录 C）
    • 客户密封前肉眼检查（可选）
    • 高级老化：MIL-STD-883，方法 1015，在 +125 °C 下总计 240 个小时
    • 批次检验：RGA，MIL-STD-883，方法 1018（1 至 3 件）
    • 批次检验：在 125 °C 下对 4 至 10 件进行 1,000 个小时的稳态寿命测试
    选项 2：戈达德太空飞行中心首选零件清单（PPP-20），GSFC S-311-P698 包括标准筛选和选项 1 以及以下内容：

    • 装配前零件检验（要素评估）
    • 封装评估
    • 客户密封前肉眼检查
    • 样品设备上的破坏性键合拉力测试
    • 样品设备上的芯片剪切强度测试
    • 水分测试
    • 可选高级老化
    • 老化前和老化后增量
    • 其他质量控制检查（QCI）
    • 批次检验：在 125 °C 下对样品批次（4 至 10 件）进行 1,000 个小时的稳态寿命测试
    注意：1) 选项 1：每种混合型的最低订购量为 100 件 2) 选项 1 + 筛选、选项 2：并非始终都能提供，具体请联系 Amptek 销售办事处。3) 价格和交货事宜请联系我们。

  • 太空任务 +


    Amptek 产品参与的太空飞行任务

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